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降低同步EEG-fMRI中梯度诱发EEG硬件发热的风险
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AI 综述
2026年11月3日，一项发布在bioRxiv、尚未经同行评审的预印本关注同步EEG-fMRI中的安全问题：当EEG放大器置于磁体腔内时，梯度切换会诱发硬件发热。该预印本报告称，在7T条件下，梯度切换率达到或超过88 T/m/s即可导致发热，提示这一布置方式存在显著发热风险。目前该工作仅以预印本形式公开，尚无同行评审或后续独立验证的报道。
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最新进展11月3日 08:00
新预印本报告7T下梯度切换率≥88 T/m/s即可致EEG硬件发热，尚未经同行评审。报道时间线
沿着报道，了解事件的不同侧面。
11月3日
- bioRxiv · Neuroscience降低同步EEG-fMRI中梯度诱发EEG硬件发热的风险
同步EEG-fMRI中放大器置于磁体腔内存在显著发热风险，7T下梯度切换率≥88 T/m/s即可致热。
本事件热度走势
还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。